如何判斷碳化硅超細(xì)微粉的硬度和切割性
通過這段時(shí)間的了解,相信大家對碳化硅超細(xì)微粉并不陌生,但是這些內(nèi)容對于想了解更多這款產(chǎn)品的客戶來說還是不夠的。下面小編將與大家分享關(guān)于碳化硅超細(xì)微粉檢測的知識(shí),希望能引起大家的關(guān)注。
如果要判斷碳化硅超細(xì)微粉的硬度和切割性,需要進(jìn)行相關(guān)測試。測試方法如下:
1.原子吸收這種檢測方法可以檢測硅的含量,判斷碳化硅硬度檢測值相對準(zhǔn)確。
2.電阻式顆粒分析儀采用電阻式顆粒分析儀測量碳化硅,的顆粒尺寸,可以有效判斷碳化硅的切削性能,檢測效率高。
3.顆粒分析儀可以準(zhǔn)確測量顆粒形狀系數(shù),是檢測碳化硅超細(xì)微粉切割效率和質(zhì)量的有效方法。
碳化硅超細(xì)微粉中硅的含量決定其硬度,碳化硅的粒徑大小對線切割影響很大,但重要的是碳化硅的顆粒形狀。碳化硅是以石油焦和優(yōu)、優(yōu)等硅石為主要原料,添加食鹽作為添加劑,通過電阻爐高溫冶煉而成。其硬度介于剛玉和金剛石之間,機(jī)械強(qiáng)度高于剛玉。
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